HCJDCS-C型 介電常數(shù)及介質損耗測試儀

介電常數(shù)及介質損耗測試儀介紹

    HCJDCS-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

  HCJDCS-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內最高的160MHz。采用了多項領先技術：

1.            雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

2.            雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3.            雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。

4.            自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5.            全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

6.            DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7.            計算機自動修正技術和測試回路最優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至最低，徹底根除 Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

介電常數(shù)及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了完美的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。
        相關介紹

介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率，是表征電介質或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據，常用ε表示。 介質在外加電場時會產生感應電荷而削弱電場，原外加電場(真空中)與最終介質中電場比值即為介電常數(shù)。其表示電介質在電場中貯存靜電能的相對能力，例如一個電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小絕緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場中，場的強度會在電介質內有可觀的下降。介電常數(shù)還用來表示介質的極化程度，宏觀的介電常數(shù)的大小，反應了微觀的極化現(xiàn)象的強弱。氣體電介質的極化現(xiàn)象比較弱，各種氣體的相對介電常數(shù)都接近1，液體、固體的介電常數(shù)則各不相同，而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關。

些物質介電常數(shù)具有復數(shù)形式，其實部即為介電常數(shù)，虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。

通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切，其可表示材料與微波的耦合能力，耗散角正切值越大，材料與微波的耦合能力就越強。例如當電磁波穿過電解質時，波的速度被減小，波長也變短了。

介電常數(shù)及介質損耗測試儀適用范圍

該儀器用于科研單學、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

介電常數(shù)及介質損耗測定儀技術參數(shù)

Q 值測量范圍  2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔 

固有誤差  ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） 

工作誤差  ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） 

電感測量范圍  4.5nH ～ 140mH 

電容直接測量范圍  1 ～ 200pF 

主電容調節(jié)范圍  18 ～ 220pF 

主電容調節(jié)準確度  120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％ 

信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ～ 160MHz